当前位置：首页>新闻中心>公司动态

光谱共焦成像点式位移传感器，机加工零件测量运用案例

发布日期：2022-10-10 　浏览次数：4059

光谱共焦成像:CCS, MPLS, CHR运用案例介绍

机加工零件测量运用案例

点式位移传感器

上一篇：超声无损检测技术中的一些运用案例

下一篇：晶圆厚度测量设备（对射式）（阶梯式）

查看更多 >>

推荐产品

友情链接：岱珂司逖测量白光干涉仪激光干涉仪

电话

021-68680803

邮　箱：jianping.zheng@dayk.com.cn

手　机：13701746963

地　址：（华东）上海市浦东新区沪南路2419弄31号906室（复地万科活力城A906室）（华南）广东省东莞市御豪轩科技大厦一栋405

二维码

Copyright © 2018-2020 上海岱珂机电设备有限公司 All Rights Reserved. 技术支持：盘胧网　备案号：沪ICP备19023602号-1